روبرت جاي ماركس الثاني

روبرت جاي ماركس الثاني (بالإنجليزية: Robert J. Marks II)‏ هو مهندس أمريكي، ولد في 25 أغسطس 1950 في فيرجينيا الغربية في الولايات المتحدة.[1][2][3]

روبرت جاي ماركس الثاني
معلومات شخصية

مراجع

  1. ^ Matthew A. Prelee and David L. Neuhoff. "Multidimensional Manhattan Sampling and Reconstruction." IEEE Transactions on Information Theory 62, no. 5 (2016): 2772-2787.
  2. ^ Leon Cohen, Time Frequency Analysis: Theory and Applications, Prentice Hall, (1994)
  3. ^ J.L. Brown and S.D.Cabrera, "On well-posedness of the Papoulis generalized sampling expansion," IEEE Transactions on Circuits and Systems, May 1991 Volume: 38 , Issue 5, pp. 554–556

وصلات خارجية

  • مقالات تستعمل روابط فنية بلا صلة مع ويكي بيانات