عرض مصدر تبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة

{{لا مصدر|تاريخ=يناير 2022}}
'''تبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة''' {{إنج|Wide angle X-ray scattering WAXS}} هو تقنية من تقنيات [[حيود الأشعة السينية]] التي تستخدم غالبا لدراسة التركيب البلوري [[مبلمر|للمكثورات]]. وتقوم هذه التقنية على تحليل [[ذرى براغ]] المبعثرة بزوايا كبيرة، والتي تنتج (وفقا ل[[حيود براج|قانون براغ]]) عن البنى الدقيقة ذات مقياس تحت النانومتر.

وتبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة هي نفس تقنية [[تبعثر الأشعة السينية بزاوية صغيرة]] وتختلف فقط بأن المسافة بين العينة واللاقط أقصر ويمكن بذلك ملاحظة الحيود عند زوايا أكبر.

== اقرأ أيضا ==
* [[تبعثر الأشعة السينية بزاوية صغيرة]]
* [[دراسة البلورات بالأشعة السينية]]
* [[حيود الأشعة السينية]]

== مراجع ==
{{مراجع}}

{{شريط بوابات|الفيزياء|الكيمياء|كيمياء فيزيائية|أعلام}}

{{بذرة شخصية}}

[[تصنيف:تبعثر]]
[[تصنيف:تقانة علمية]]
[[تصنيف:حيود]]